在電鏡中觀察的晶體薄膜試樣,一般總是含有缺陷的,或多或少地存在著不完整性。由于晶體局部取向改變而引起的不完整性,除晶界、孿晶界、析出物與基體的相界面以外,還有由于晶體缺陷所引起的彈性位移,如點缺陷、面缺陷、線缺...[繼續(xù)閱讀]
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在電鏡中觀察的晶體薄膜試樣,一般總是含有缺陷的,或多或少地存在著不完整性。由于晶體局部取向改變而引起的不完整性,除晶界、孿晶界、析出物與基體的相界面以外,還有由于晶體缺陷所引起的彈性位移,如點缺陷、面缺陷、線缺...[繼續(xù)閱讀]
運動學理論可以定性地解釋薄晶體的一些衍襯效應。但由于運動學理論假設的局限性,使得動力學相干引起的許多襯度細節(jié)難以用運動學理論予以解釋。事實上我們在討論“消光距離”的概念時,已清楚地看到這種動力學交互作用是不...[繼續(xù)閱讀]
1.完整晶體衍射動力學的基本方程在衍射動力學理論中保留了運動學理論中的“雙束近似”和“柱體近似”的假設,考慮了吸收,并認為存在一個極限,更重要的是考慮了各級衍射束之間的交互作用,即它們之間的能量交換,因此透射波振...[繼續(xù)閱讀]
有了完整晶體動力學方程,類似于運動學理論,只需在柱體中引入位移矢量R和附加相位角α=2πg·R,并在相位因子中考慮進去,便可得到不完整晶體的動力學方程,可以由(2-24)式得到不完整晶體雙束動力學表達式如下:(2-39)解(2-24)式,我們得...[繼續(xù)閱讀]
材料的性能特別是力學性能是結構敏感的,材料中晶體缺陷的種類、形態(tài)、數(shù)量與分布和材料的各種性能密切相關。根據(jù)第二章介紹的運動學和動力學理論可建立對電子顯微圖像襯度進行分析的方法,也可以建立測定某些參數(shù)的判據(jù)。...[繼續(xù)閱讀]
操作反射是衍襯分析的基礎。為了便于運用雙束動力學理論,對圖像襯度進行分析,如前所述,試驗中應盡可能獲得近似的雙束成像條件。若對圖像襯度起主要作用的衍射束強度較之其它衍射束的強度要強得多時,仍可近似為雙束條件。...[繼續(xù)閱讀]
選擇偏離參量s,包括s的符號(為正、為負或0)是衍襯分析中經(jīng)常遇到的一個重要問題。利用亮菊池線偏離同指數(shù)斑點的距離x可計算偏離參量s的大小。圖3-1(a)的狀態(tài)嚴格滿足布拉格衍射條件,偏離距離x=0。若在這個基礎上偏轉試樣,反射...[繼續(xù)閱讀]
根據(jù)(2-4)式,消光距離ξg的表達式為(3-2)當ω=sξg≠0時,有效消光距離由下式表示例:已知加速電壓為100kV,求面心立方純銀操作反射(200)的消光距離。單胞體積Vc=a3=(0.4089nm)3=0.06836nm3單胞散射因子Fg=f∑exp[2πi(hui+kvi+lwi)]對FCC:ui、vi、w...[繼續(xù)閱讀]
晶體學取向的測定一般包括三種情況:一是試樣在未進行傾斜,即處于零傾斜位置時,試樣表面垂直于電子束方向,只要精確測定試樣膜面法線的取向FN即可。應該指出,從單晶斑點衍射譜測得的晶帶指數(shù)[uvw]只能有條件地視為試樣表面的...[繼續(xù)閱讀]
膜厚是測量點缺陷和位錯密度時,必不可少的數(shù)據(jù)。測量膜厚的方法很多[9],這里主要介紹幾種常用的方法:1.根據(jù)等厚消光條紋數(shù)進行計算利用等厚消光條紋數(shù)目n和消光距離ξg,借助下述公式可以近似計算出條紋所在處的試樣厚度t:(...[繼續(xù)閱讀]