一種用于CIS列級ADC的片上抗PVT變化高精度自適應(yīng)斜坡發(fā)生器

摘要： 傳統(tǒng)的片上全局斜坡發(fā)生器電路容易受工藝、電壓和溫度(PVT)的影響，導(dǎo)致斜坡信號易失真、線性度差；由于寄生電容的影響，片外校準(zhǔn)的難度較大。提出了一種可以抗PVT變化，實現(xiàn)自適應(yīng)校準(zhǔn)斜率的斜坡發(fā)生器，采用逐次逼近算法細(xì)調(diào)和定步長搜索法微調(diào)相結(jié)合的方式，實現(xiàn)對斜坡的兩點校正。斜坡校準(zhǔn)電路包括電阻型DAC、電流型DAC、邏輯控制、動態(tài)比較器等模塊。仿真結(jié)果表明，自適應(yīng)斜坡發(fā)生器的平均... （共7頁）