掃描近場光學(xué)顯微術(shù)的研究進(jìn)展（特邀）
光學(xué)學(xué)報(bào)
頁數(shù)： 14 2024-03-18
摘要： 掃描近場光學(xué)顯微鏡（SNOM）因其具有可達(dá)10 nm量級(jí)的超高光學(xué)分辨率與光譜分析能力，為物理、化學(xué)、材料科學(xué)和生命科學(xué)等領(lǐng)域的若干重要前沿基礎(chǔ)科學(xué)問題提供了強(qiáng)有力的高時(shí)空分辨的光學(xué)表征工具。本文聚焦高分辨SNOM技術(shù)近期的研究進(jìn)展，首先回顧了SNOM成像技術(shù)的基本原理和SNOM探針的發(fā)展歷史。接著重點(diǎn)介紹了將SNOM成像技術(shù)應(yīng)用于研究微納尺度上光與原子、分子、二維材料、生物大... （共14頁）
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