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AISL：一個(gè)基于LAMMPS的XFEL輻照損傷自動(dòng)化模擬程序

核技術(shù) 頁(yè)數(shù)： 10 2024-04-15
摘要： 在高強(qiáng)度X射線輻照下，X射線自由電子激光(X-ray Free-electron Laser,XFEL)裝置的光學(xué)元件薄膜產(chǎn)生的大量輻照缺陷會(huì)導(dǎo)致材料結(jié)構(gòu)損傷，引起宏觀性能退化，從而影響其服役壽命，進(jìn)而影響到XFEL裝置的可靠性和穩(wěn)定性。為了研究材料輻照缺陷過程以及方便耐輻照材料的數(shù)據(jù)積累，提供了一種基于Python語言的自動(dòng)化輻照模擬程序AISL(Automatic Irra...

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