伴隨粒子中子檢測系統(tǒng)發(fā)展及應(yīng)用

摘要： 基于快中子技術(shù)的無損檢測方法能夠在不對檢測物造成影響的情況下，發(fā)現(xiàn)其隱藏的危險品。利用D-T反應(yīng)時伴隨中子產(chǎn)生的反沖α粒子對有效中子進(jìn)行標(biāo)記，可大幅提高中子探測信噪比，同時通過空間分辨α粒子還可以獲得被檢測對象特征元素的空間信息，所以基于伴隨α粒子的中子檢測方法在安檢領(lǐng)域具有重要的應(yīng)用前景。本文簡單介紹了基于伴隨α粒子中子檢測方法的原理和系統(tǒng)組成，并對系統(tǒng)的中子管、α粒子探測器...